Diszlokáció struktúrák statisztikai tulajdonságainak vizsgálata XRD és HR EBSD segítségével Fizika, Földtudományok és Matematika

35 OTDK, Fizika, Földtudományok és Matematika Szekció, Kísérleti szilárdtestfizika Tagozat.

Diszlokáció struktúrák statisztikai tulajdonságainak vizsgálata XRD és HR EBSD segítségével

Helyezés: 2

Hallgató: Lipcsei Sándor
Szak: Mérnöki Fizika, Képzés típusa: ba, Intézmény: Babeș-Bolyai Tudományegyetem, Kar: N

Témavazető: Groma István - Egyetemi tanár, Eötvös Loránd Tudományegyetem Természettudományi Kar

Az anyagtudományok területén számos olyan alapvető jelenséggel találkozunk, melyeknek magyarázatára mind a mai napig nem kaptunk választ, éppen abból kifolyólag, hogy a különböző alapvető, az anyag mechanikai tulajdonságait jellemző fizikai mennyiségek elméleti és kísérleti leírása napjainkig nagy fejtörést okoz a kutatóknak.

A projektünk során röntgen diffrakciós vonalprofil analízis és nagyfelbontású visszaszórt-elektron diffrakció (HR-EBSD) segítségével statisztikai paraméterek (átlagos diszlokáció sűrűség, össz diszlokáció polarizáció és átlagos diszlokáció sűrűség fluktuáció) meghatározását tűztük ki célnak, egytengely mentén deformált rézegykristály esetében. Méréseink során azt kaptuk, hogy a rugalmatlan deformáció során a diszlokáció sűrűség monoton növekvést mutatott, míg az átlagos fluktuáció a kettes és hármas keményedési fázisok között maximumot ért el. A diszlokáció struktúra fraktál szerkezetét is vizsgáltuk. A fraktáldimenzió és relatív diszlokáció sűrűség fluktuáció között erős korrelációt észleltünk.